多通道絕緣電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：Huace

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-17

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

華測(cè)儀器多通道絕緣電阻測(cè)試儀

價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

多通道絕緣電阻測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是一款用于評(píng)估電子材料與元器件絕緣可靠性的信賴性試驗(yàn)設(shè)備，是用于捕捉高溫、高濕、電場(chǎng)等復(fù)雜環(huán)境下，材料及元器件因離子遷移引發(fā)的絕緣電阻劣化過程，準(zhǔn)確判斷失效風(fēng)險(xiǎn)，為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)控及失效分析提供科學(xué)數(shù)據(jù)支撐，適用于電子、汽車、新能源等行業(yè)可靠性產(chǎn)品的測(cè)試需求。

產(chǎn)品參數(shù)

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量電壓:100 ~ 1500V（可定制）

測(cè)試通道:128通道（可定制至高960通道）

測(cè)試時(shí)長(zhǎng):可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)

測(cè)試溫度:85℃（可定制）

測(cè)試濕度:85%（可定制）

測(cè)量范圍:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）

掃描周期:至快2分鐘（128通道）

應(yīng)用領(lǐng)域

電子材料：印BGA、CSP等節(jié)距IC封裝件；

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、密度高的封裝材料；

半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估。